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表面観察試料作成装置(クロスセクションポリッシャ:CP)

名称表面観察試料作成装置(クロスセクションポリッシャ:CP)
メーカーJEOL
型式クロスセクションポリッシャー SM-09020CP Mark II
仕様・イオン加速電圧:2〜6kV
・ミリングスピード:200μm/2h以上
・試料寸法:11mm(幅)×10mm(長さ)×2mm(厚さ)以内
用途・電子顕微鏡などで観察する試料断面のイオン照射を用いた低ダメージ・精密研磨。
分類形態観察に関する機器
購入年度2008年度
設置場所群馬産業技術センター(前橋)
補助事業名日本自転車振興会補助事業